GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法

GB 1551-1979  硅单晶电阻率直流二探针测量方法

标准编号:GB 1551-1979
中文标准名称:硅单晶电阻率直流二探针测量方法
英文标准名称:measurement of resistivity for monocrystalline silicon with d-c two point probe
标准状态:已作废
被代替标准号:被GB/T 1551-1995代替
废止时间:1995-12-1
语言:简体中文版、英文版
发布日期:1979-05-26
实施日期:1980-01-01
标准类别:国家标准GB
中国标准文献分类法(中标分类CCS):冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法
国际标准分类法(ICS):
标准页数:2页
引用标准:被GB/T 1551-1995代替

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